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產品詳情
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  • 產品名稱：光耦參數測試儀 JFY3010A光耦測試儀

  • 產品型號：JFY3010A
  • 產品廠商：同德
  • 產品文檔：
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簡單介紹：
光耦參數測試儀 JFY3010A光耦測試儀 JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用方便,適用電子產品或電子元件供應商來料檢測 光耦參數測試儀 JFY3010A光耦測試儀
詳情介紹：

光耦參數測試儀 JFY3010A光耦測試儀

JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用方便,適用電子產品或電子元件供應商來料檢測。
※             測量元件類型:三極管類型4腳 6腳光耦
※             測量參數:

光耦參數測試儀 JFY3010A光耦測試儀

參數指標表:    

參數項

測試參數

測試條件設置

輸入正向壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐壓(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

傳輸比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽和壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V
輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V
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